真空排気ユニット(オプション)を付けることで、重元素はもとより、Na、Mg、Alなどの軽元素を測定できます。(NaからUまで対応可能)金属、土壌、食品、品質管理など、様々な用途に活用できます。 |
カラーCCDカメラ(オプション)を付けることで、観察しながら、測定したい箇所の分析が可能です。1mmφのコリメータを標準装備しているので、微小異物も確認しながら分析できます。 |
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薄膜FP法を用いてメッキ厚の簡易測定ができます。多層メッキや合金メッキにも対応可能です。元素によって異なりますが一般的な金属メッキでは0.1〜20μm程度まで測定可能です。 |
材料判定(Q-ベース)ソフトでは、測定データに最も近い組成の物質をデータベースからリストアップできます。 |
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土壌汚染対策法により、土壌汚染の可能性のある土地について、土壌汚染調査することが義務付けられています。エネルギー分散型蛍光X線分析装置は、公定法に比べ有害重金属元素を簡易かつ低コストに測定する手段として注目されています。エネルギー分散型蛍光X線分析装置は、多元素同時測定・迅速分析ができます。
本装置は土壌中の有害重金属元素の分析が可能であり、東京都の「土壌汚染調査(重金属等)の簡易で迅速な分析技術」に選定されています。
さらに、日本工業規格「土砂類中の全ひ素及び全鉛の定量―エネルギー分散方式蛍光X線分析法」(JIS K0470) に準拠可能です。
主な仕様
| JSX-3100RII | |
| 検出元素範囲 | Na ∼ U |
| X線発生装置 | 5∼50kV 1mA 50W |
| ターゲット | Rh |
| フィルタ | 4種自動交換(オープン含め) |
| コリメータ | 1mmφ/3mmφ/7mmφ |
| 検出器 | 液体窒素レスSi(Li)半導体検出器 |
| 液体窒素 | 不要 |
| 試料室サイズ | 直径 300mm × 150mm(H) |
| 試料室雰囲気 | 大気(真空:オプション) |
| パソコン | Windows®パソコン Windows® XP 液晶ディスプレイ カラープリンタ |
| ソフトウェア | RoHS分析:プラスチック5元素分析、金属材料5元素分析、分析結果報告書作成 一般分析:バルクFP法 薄膜FP法 検量線作成 |
| 保守 ソフトウエア |
装置校正ソフト JSXスタータ |
| 付属試料 | エネルギー校正試料 RoHS元素含有量チェック試料 強度校正試料 |
オプション
| JSX-3100RII |
| 真空排気ユニット |
| 16試料自動交換機構 |
| Snメッキ分析ソフトウエア |
| Niメッキ分析ソフトウエア |
| サムピーク除去ソフトウエア |
設置条件
| JSX-3100RII | |
| 電源 | 単相100V ±10% 50/60Hz 15A D種接地 |
| 環境 | 室温: 18 ∼ 28℃ 湿度: 40 ∼ 70%(結露のないこと) 腐食性ガスや粉塵および有感振動のないこと |
| 液体窒素 | 不要 |
| 本体寸法(mm) | 650(W)× 810(D)× 540(H) |
| 質量 | 100kg |
X線装置設置に関する届出
本装置について、労働安全衛生法、労働安全衛生規則および電離放射障害防止規則にしたがって装置の設置手続きが必要です。
詳細につきましてはお問い合わせください。
※外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。
※本体とPCを置くテーブルはお客様でご用意ください。
※Windows®は米国マイクロソフト社の米国もしくはその他の国においての登録商標または商標です。