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エネルギー分散形蛍光X線分析装置
液体窒素フリータイプの
エネルギー分散形蛍光X線
分析装置
- RoHS規制物質のスクリーニング
- 高分解能、液体窒素フリー Si(Li)半導体検出器 を実現
- 一般の分析にも対応可能で、金属、岩石・土壌、食品、メッキ厚測定など汎用の蛍光 X 線分析装置としても使用できます。
- 高感度、短時間分析
重元素にも感度が高いSi(Li)半導体検出器と、RoHS規制成分の検出に最適化したX線フィルタの採用で、微量元素を高感度で検出できます。 |
専用の測定メニューにより、ワンクリックでCd、Pb、Hg、Br、Crのスクリーニングを開始し、試料形状や材質を自動的に補正したスクリーニング結果を表示します。 |
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RoHSスクリーニング結果から、カスタマイズ可能なテンプレートを用いて簡単に報告書を作成できます。 |
メッキの厚みと下地の影響を自動的に補正してNiメッキに含有しているPbのスクリーニング精度を向上させます。 |
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主な仕様
| JSX-3100RII | |
| 測定元素範囲 | Na ∼ U |
| Ｘ線発生装置 | Rhターゲット、5∼50kV、1ｍA、50Ｗ |
| フィルタ | 4種自動交換（オープン含め） |
| コリメータ | 1mmφ、3mmφ、7mmφ |
| 検出器 | 液体窒素フリーSi（Li）半導体検出器 |
| 試料室サイズ | 300mmφ×150mm（Ｈ） |
| データ処理部 | WindowsXP搭載PC、液晶ディスプレイ、カラープリンタ |
| RoHS対応ソフト | プラスチック5元素用、金属5元素用、 Snメッキ用（オプション）、Niメッキ用（オプション） |
| 一般分析ソフト | バルクＦＰ法、薄膜ＦＰ法、検量線法 |
| オプション | CCDカメラ、16試料交換機構、真空排気装置 |
| 本体外形寸法/質量 | 650（Ｗ）× 810（Ｄ）× 460（Ｈ） 約90kg |
| 設置条件 | 単相AC100V、50/60Hz、15A、Ｄ種接地 室温18∼28度、湿度40∼70％ |
設置条件
| JSX-3100RII | |
| 電源 | 単相100V ±10%、50/60Hz 15A、D種接地 |
| 環境 | 室温： 18 ∼ 28 ℃ 湿度： 40 ∼ 70 ％（結露のないこと） 腐蝕性ガスや粉塵および有感振動のないこと |
| 液体窒素 | 不要 |
| 本体寸法（mm） | 650（W）× 810（D）× 540（H） |
| 質量 | 100kg |
※外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。
※本体とPCを置くテーブルはお客様でご用意ください。
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このカタログに掲載した商品は、外国為替及び外国貿易法の安全保障輸出管理の規制品に該当する場合がありますので、輸出するとき、または日本国外に持ち出すときは当社までお問い合わせ下さい。 |
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 本社・昭島製作所 〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3−1−2 TEL: （042）543-1111（大代表） FAX （042）546-3353 |
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