

重元素にも感度が高いSi(Li)半導体検出器と、RoHS規制成分の検出に最適化したX線フィルタの採用で、微量元素を高感度で検出できます。 |
専用の測定メニューにより、ワンクリックでCd、Pb、Hg、Br、Crのスクリーニングを開始し、試料形状や材質を自動的に補正したスクリーニング結果を表示します。 |
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RoHSスクリーニング結果から、カスタマイズ可能なテンプレートを用いて簡単に報告書を作成できます。 |
メッキの厚みと下地の影響を自動的に補正してNiメッキに含有しているPbのスクリーニング精度を向上させます。 |
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主な仕様
| JSX-3400RII | |||||
| 測定元素範囲 | Na ∼ U | ||||
| X線発生装置 | 5∼50kV、1mA、50W | ||||
| ターゲット | Rh | ||||
| フィルタ | 4種自動交換(オープン含め) | ||||
| コリメータ | 1mmφ、3mmφ、7mmφ | ||||
| 検出器 | Si(Li)半導体検出器 | ||||
| 液体窒素 | 3L デュワ、消費量1L/日 | ||||
| 試料室サイズ | 300mmφ×150mm(H) | ||||
| 試料室雰囲気 | 大気(真空:オプション) | ||||
| パソコン | Windowsパソコン、WindowsXP、液晶ディスプレイ、カラープリンタ | ||||
| ソフトウェア |
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| 装置校正ソフト | 装置校正ソフト、JSXスタータ | ||||
| 付属試料 | エネルギー校正試料、チェック試料、強度校正試料 |
設置条件
| JSX-3100RII | |
| 電源 | 単相100V ±10%、50/60Hz 15A、D種接地 |
| 環境 | 室温: 18 ∼ 28 ℃ 湿度: 40 ∼ 70 %(結露のないこと) 腐蝕性ガスや粉塵および有感振動のないこと |
| 液体窒素 | 使用時のみ供給 |
| 本体寸法(mm) | 650(W)× 750(D)× 460(H) |
| 質量 | 90kg |
※外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。
※本体とPCを置くテーブルはお客様でご用意ください。