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エネルギー分散形蛍光X線分析装置置

エネルギー分散形蛍光X線分析装置

Element Analyzer JSX-3400R2

液体窒素タイプの
エネルギー分散形
蛍光X線分析装置

JSX-3400R2製品図
  • RoHS規制物質のスクリーニング
  • 一般の分析にも対応可能で、金属、岩石・土壌、食品、メッキ厚測定など汎用の蛍光 X 線分析装置としても使用できます。
  • 検出器の冷却に液体窒素を使用します。
  • JSX-3100R・と同じ分析ができます。

優れた基本性能と、豊富なソフトウェア構成

RoHS規制成分の高感度・短時間測定

重元素にも感度が高いSi(Li)半導体検出器と、RoHS規制成分の検出に最適化したX線フィルタの採用で、微量元素を高感度で検出できます。

簡単操作

専用の測定メニューにより、ワンクリックでCd、Pb、Hg、Br、Crのスクリーニングを開始し、試料形状や材質を自動的に補正したスクリーニング結果を表示します。

RoHS規制成分の高感度・短時間測定画面
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簡単操作
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多彩な結果出力

RoHSスクリーニング結果から、カスタマイズ可能なテンプレートを用いて簡単に報告書を作成できます。

Niメッキソフト

メッキの厚みと下地の影響を自動的に補正してNiメッキに含有しているPbのスクリーニング精度を向上させます。

多彩な結果出力画像
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Niメッキソフト画像
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  主な仕様

  JSX-3400RII
測定元素範囲 Na ∼ U
X線発生装置 5∼50kV、1mA、50W
ターゲット Rh
フィルタ 4種自動交換(オープン含め)
コリメータ 1mmφ、3mmφ、7mmφ
検出器 Si(Li)半導体検出器
液体窒素 3L デュワ、消費量1L/日
試料室サイズ 300mmφ×150mm(H)
試料室雰囲気 大気(真空:オプション)
パソコン Windowsパソコン、WindowsXP、液晶ディスプレイ、カラープリンタ
ソフトウェア
RoHS分析 プラスチック5元素用、金属5元素用、Snメッキ用(オプション)、Niメッキ用(オプション)
一般分析 バルクFP法、薄膜FP法、検量線作成
装置校正ソフト 装置校正ソフト、JSXスタータ
付属試料 エネルギー校正試料、チェック試料、強度校正試料

  設置条件

  JSX-3100RII
電源 単相100V ±10%、50/60Hz 15A、D種接地
環境 室温: 18 ∼ 28 ℃ 湿度: 40 ∼ 70 %(結露のないこと)
腐蝕性ガスや粉塵および有感振動のないこと
液体窒素 使用時のみ供給
本体寸法(mm) 650(W)× 750(D)× 460(H)
質量 90kg

※外観・仕様は改良のため予告なく変更することがあります。
※本体とPCを置くテーブルはお客様でご用意ください。

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